搜索
加速科技“光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统”专利获授权
3 小时前
/ 阅读约1分钟
来源：集微网
杭州加速科技取得光学芯片测试光源校准方法专利，该方法基于梯度下降算法，能精准高效实现光源校准，提升芯片测试效率。
天眼查显示，杭州加速科技有限公司近日取得一项名为“光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统”的专利，授权公告号为CN116298804B，授权公告日为2025年10月17日，申请日为2023年3月28日。
本发明提出了一种光学芯片测试的光源校准方法、装置及光学芯片测试系统。方法包括：获取在预设可测电压范围内光源电压参数与光源亮度之间的线性关系；基于预设规则选取准电压参数，获取在准电压参数下的光源亮度的测量值和理论值以得到每个准电压参数对应的变化量，判断每个变化量是否符合预设精度要求；将符合预设精度要求的准电压参数作为校准光源参数，基于校准光源参数构建相应的光源以参与光学芯片的测试。本发明基于梯度下降算法的思想，兼顾稳定性和高效性，无论在任何精度要求环境下，光源校准都能在短时间内完成，校准次数少，校准效率高，精准高效地实现光源校准，进而提升芯片测试效率。
