上海安路信息科技股份有限公司公布了一项名为“芯片的同步开关噪声测试方法装置及存储介质”的专利,申请公布号为CN119224534A,公布日期为2024年12月31日。该专利通过确定待测芯片的被测I/O和干扰源I/O,在最大驱动电流下进行测试,从而快速准确预测其他驱动电流下的同步噪声结果,提高了测试效率。