搜索
比亚迪半导体“存储器测试方法、存储器测试装置、存储介质和电子设备”专利公布
2025-02-17
比亚迪半导体股份有限公司公布了一项名为“存储器测试方法、存储器测试装置、存储介质和电子设备”的专利，申请公布号为CN119207534A，公布日期为2024年12月27日。该专利涉及遍历待测存储器的存储单元，通过数据读写操作和逻辑运算检测存储器故障，提高了测试算法的可靠性和故障测试效率。
