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800G时代来临，高速ADDA芯片如何实现低成本量产测试？
2 天前
本文聚焦于800G DSP芯片中集成的高速ADDA芯片，探讨其工作原理及ATE测试挑战。ADDA芯片集成了ADC和DAC功能，实现模拟与数字信号的双向转换，是连接物理世界与数字系统的关键。随着芯片工艺进步，ADDA芯片集成度提升，但ATE测试复杂度增加，测试时间延长，成本上升。为应对量产测试挑战，需采用高效测试方案，如集成化测试设备、自动化测试流程，以降低成本，提高测试效率，确保芯片良率。
