半导体工艺向5nm、3nm乃至2nm演进,芯片后端设计面临技术挑战。5nm工艺晶体管密度达130-150 MTr/mm²,典型阈值电压降至0.65V,静态功耗占比高达45%。12nm工艺虽成熟,但漏电控制仍关键,高温下漏电流指数级增长,影响芯片性能和可靠性。其他先进工艺节点可借鉴此类情况。