6月15日,安徽凌光红外科技有限公司在合肥高新区全球首发了LUXET VERITAS微光显微镜及激光诱导电阻变化(EMMI+OBIRCH)二合一显微镜,该设备深度融合两大主流失效分析功能,全面覆盖半导体全链条检测需求。