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聚力国产新势力，共启半导体失效分析新征程
13 小时前
6月15日，安徽凌光红外科技有限公司在合肥成功举办LUXET VERITAS微光显微镜及激光诱导电阻变化（EMMI+OBIRCH）二合一显微镜的全球发布会。胜科、季丰等七大行业主流实验室代表齐聚一堂，共同见证了这款国产高端半导体检测设备的技术突破。该设备深度融合了EMMI微光检测与OBIRCH激光诱导电阻变化两大功能，实现了“一机两用”，全面覆盖半导体全链条检测需求，标志着我国在电性失效分析技术领域取得了关键性自主创新。
