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精测半导体“理论光谱数据优化方法及测量方法”专利公布
2025-02-14
上海精测半导体技术有限公司的“理论光谱数据优化方法及测量方法”专利已公布，申请公布号为CN119227380A，公布日期为2024年12月31日。该方法通过灵敏度筛选优化级次对集合，提高理论光谱数据的计算效率。
