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国芯科技：汽车电子离手检测触控MCU新产品内部测试成功

2 天前

6月17日，国芯科技公告称，其研发的新一代汽车电子离手检测触控MCU产品CCM4202S-O已成功完成内部测试。该芯片采用40nm EFLASH工艺，集成多种功能模块，封装形式包括LQFP48和LQFP64等，有望缓解我国新能源汽车产业方向盘离手检测集成化触控MCU芯片的供应短缺问题。

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