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京东方“缺陷检测方法及装置、存储介质及电子设备”专利获授权
13 小时前
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来源：集微网
京东方取得缺陷检测方法及装置等专利，通过获取检测任务及图像，利用对应缺陷检测模型检测，提高检测效率，降低开发成本。
天眼查显示，京东方科技集团股份有限公司近日取得一项名为“缺陷检测方法及装置、存储介质及电子设备”的专利，授权公告号为CN115699082B，授权公告日为2025年10月14日，申请日为2021年5月21日。
提出一种缺陷检测方法及装置、计算机可读存储介质及电子设备，方法包括：获取检测任务，并获取检测任务对应的多种类型的图像；获取与图像的类型分别对应的由同一初始模型训练所得的缺陷检测模型；利用各图像的类型对应的缺陷检测模型对各种类型的图像进行缺陷检测得到缺陷检测结果。本技术方案提高了检测效率，降低开发成本。
