以测见微,以光致远:罗德与施瓦茨携前沿测试方案亮相光博会
4 小时前 / 阅读约1分钟
来源:C114

近日,中国国际光电博览会(CIOE)在深圳隆重开幕。罗德与施瓦茨以“以测见微,以光致远”为主题参展,聚焦光通信、激光器与先进光子技术领域,展示了覆盖从晶圆、芯片、器件、模组到系统级验证的多维精密测试能力,助力客户攻克高速、高精度与高可靠性设计挑战。在展会现场,罗德与施瓦茨业务发展经理裴英良在接受C114专访时指出:R&S与苏州六幺四合作,实现了毫米波与亚太赫兹频段的连续、高精度扫频测试,以及电光、光电、光光三类元器件的频谱响应参数测量。

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