处理器芯片全国重点实验室的学术论文DDP-Fsim获得CCF推荐B类国际会议ICCAD 2024大会最佳论文提名。该论文提出了一种确定型向量的双阶段并行故障仿真算法,名为DDP-Fsim,旨在提高故障仿真的效率和可扩展性。论文的第一作者是实验室硕士生谷丰,导师为叶靖副研究员。此次提名标志着实验室在芯片技术领域的研究成果获得了国际认可。