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利扬芯片“一种用于芯片老化测试的数据采集装置”专利获授权
2025-02-19
广东利扬芯片测试股份有限公司近期获得一项名为“一种用于芯片老化测试的数据采集装置”的专利，授权公告号为CN222259505U，该专利的申请日期为2024年3月5日，并于2024年12月27日公告。此专利包含多级数据采集单元，能精确获取芯片老化测试后的输出电压信号，从而准确判断芯片是否存在异常，将极大提升芯片测试的准确性和效率。
