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我国科研人员“以柔克刚”填补微型LED晶圆无损测试技术空白
2025-06-15
微型LED作为下一代高端显示技术的核心，其晶圆良率需达100%，否则修复成本高昂。但业界一直缺乏晶圆接触式无损检测的有效方法。近日，我国科研人员采用创新柔性技术，成功填补了这一技术空白。
