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消息称三星下一代DRAM良率已达50 ~ 70%
2025-06-20
三星电子上月宣布，在第六代10纳米级DRAM晶圆性能测试中，成品率达到了50%至70%。与去年同一产品不到30%的成品率相比，此次提升显著。这一进步标志着三星电子在提升半导体良率方面取得了实质性进展。
