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积塔半导体“失效测试电路及方法”专利公布
1 天前
上海积塔半导体有限公司申请的“失效测试电路及方法”专利于2025年3月14日公布，公布号为CN119619786A。该专利通过串联待测器件及保护模块，在待测器件二次击穿时保护失效位置形貌，提高测试效率和准确性。
