掺硅氧化铝镓薄膜导电带隙刷新纪录
12 小时前

更宽带隙的半导体能让电子产品更小、高效且耐高压,但材料导电性较难控制。美国康奈尔大学领导的研究团队发现,在氧化铝镓薄膜中掺入硅,能在比以往更宽的半导体带隙下,保持稳定的导电调控能力。