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泰矽微“一种芯片测试方法、装置、系统和介质”专利公布
2025-01-03
上海泰矽微电子有限公司申请的“一种芯片测试方法、装置、系统和介质”专利于2024年11月29日公布，申请公布号为CN119044739A。该专利通过自动化技术提升芯片测试效率，实现了待测芯片与上位机的高效交互，降低了人工干预需求。
