拓扑霍尔效应(THE)是探测斯格明子、手性畴壁等拓扑自旋纹理的常用方法,在高能效自旋电子学器件中应用潜力巨大。传统研究多采用固定电流方向的霍尔输运测量,忽略了材料本征各向异性对拓扑构型的调控,导致对实际器件中电流取向的影响认识有限。揭示电流方向与材料对称性的耦合机制,成为拓扑输运研究亟待解决的科学问题。