氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)具备高击穿电压、高功率密度及高频工作特性,在无线通信、射频功率器件和航空航天领域应用广泛。传统GaN HEMT设计依赖TCAD仿真与参数扫描,为满足特定截止频率和最大振荡频率要求,需在多维参数空间中反复仿真,导致设计周期长、计算成本高昂。因此,开发面向目标性能的快速智能逆向设计方法显得尤为重要。