安路信息“基于FPGA的芯片测试方法和装置”专利公布 - 芯片

Just Quick Just Quality

热门话题

白天

搜索

资讯

安路信息“基于FPGA的芯片测试方法和装置”专利公布

2024-12-29

上海安路信息科技股份有限公司公布“基于FPGA的芯片测试方法和装置”专利，申请公布号为CN118962398A，公布日期为2024年11月15日。该专利通过映射底层电路确定测试位置，省去了工具综合和时序分析收敛环节，提高了整体运行效率。

上一篇：兆易创新“存储器的信息保护方法、装置、设备及存储介质”专利公布

下一篇：屹唐半导体“晶圆位置校准装置”专利公布

返回列表

热文阅读

2 天前

科技巨头密集更新 AI 模型，“模型疲劳”问题凸显

2 天前

特斯拉突然宣布：电机0稀土，中企手里的牌还有竞争力吗？

2 天前

刚刚，OpenAI「AI研究实习生」正式入职，黄仁勋：AGI已来

2 天前

完成近5亿元B系列融资，中科院孵化的国防AI企业年入数亿丨36氪首发

1 天前

刚刚，GPT-6 Astra “鲨死了”所有验证码

1 天前

刚刚，能预测多智能体交互的世界模型来了

2 天前

AI 开始「互发微信」了，谁来管管它们？

2 天前

90后AR连续创业者用半导体工艺造光学芯片，完成超亿元B轮融资丨36氪首发

2 天前

特斯拉将于 9 月 11 日起在日本市场开启 Cybercab 线下巡回展出，覆盖东京 / 名古屋 / 大阪

2 天前

SIA：7月全球半导体销售额达1468亿美元，同比大增135.1%

上一篇：兆易创新“存储器的信息保护方法、装置、设备及存储介质”专利公布

下一篇：屹唐半导体“晶圆位置校准装置”专利公布

Just Quick Just Quality

发现

资讯话题

热门话题

7 x 24跟踪全球科技动态

快讯

资讯

视频

关于我们